二手 JEOL 2010F #9283823 待售

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ID: 9283823
Transmission Electron Microscope (TEM).
JEOL 2010F是一种扫描电子显微镜(SEM),它为用户提供了非常适合许多行业的广泛应用的功能。仪器配备了一系列先进的功能,让有经验的和新手的用户都能快速、轻松地准备样品进行观察。该装置有一个大的腔室大小,使用户能够观察到更大的样品-直径可达12厘米。它配备了高亮度的FEG,允许良好的聚焦、对比度和分辨率。它的非磁性快速开关polepiece技术提供了高水平的性能,产生清晰的图像和高立体声角度。该装置包括一整套探测器,包括次级和反向散射电子探测器。其4象限反向散射电子探测器产生高分辨率图像,可用于测量小物体。它还具有立体角大的二次电子检测器,提供出色的效率和灵敏度。该系统还具有多种分析能力,适合多种应用。它的能量色散X射线(EDX)探测器为用户提供了样品组成和厚度的信息,使得识别样品中存在的元素成为可能。其EBSD(电子反向散射衍射)检测器是先进晶体学的理想选择,允许用户分析单个晶粒和薄膜中的原子结构、取向和应变。JEOL 2010 F提供了多种自动化功能,使其极为方便用户。其自动功能可用于快速设置实验,为用户节省时间和精力。它还具有扫描电子束控制,允许用户精确移动或扫描样品。最后,它的自动化数字电子提供了优异的中间分辨率.2010F是一个出色的扫描电子显微镜,适用于广泛的应用。它具有先进的功能和自动化功能,是专业用户和新手用户的理想工具。
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