二手 JEOL 2011 #9224590 待售

JEOL 2011扫描电子显微镜（SEM）是一种高分辨率成像工具，允许对标本进行详细检查，并对表面特征进行超高细节分析。它能够产生高达500,000x的放大倍率,分辨率<1.0nm和高景深,以实现三维特征的最佳成像。这种显微镜的各种特点使其非常适合广泛的应用，从良性受试者的低带宽成像到工业部件的高分辨率检查。显微镜通过扫描样品上的聚焦电子束来操作，从而产生二次电子、反向散射或X射线发射。然后将得到的信号放大并投射到荧光屏上以产生图像。电子束的强度和位置可以调整，以强调不同的特征或在一个区域观察不同的样品特性。除了成像能力，2011年还提供多种分析能力。这些包括表面特征的量化、组成分析、形态和结晶度。除了这些分析功能外,它还提供了许多功能,以简化操作和分析,例如允许检查样本中阶梯特征的倾斜阶段和自动分析例程。JEOL 2011是一种多功能成像和分析工具,具有多种功能,可用于对各种样品进行高分辨率检查和分析。它的特征组合产生了可用、可重现和有意义的图像，说明了表面属性与样本底层结构之间的关系。凭借其众多的特点，2011可以成为广泛研究和工业应用的宝贵资产。