二手 JEOL 35 #126386 待售

JEOL 35
ID: 126386
Scanning electron microscope, TEM detector, parts system.
JEOL 35是一种扫描电子显微镜(SEM),设计用于对各种样品进行高精度成像和分析。它具有广阔的视野、景深和分辨率性能,图像可以放大到原始大小的2000倍。其坚固的设计使得它可靠和理想的成像样品在各种材料,包括金属,陶瓷,聚合物和有机物。35配备低真空模式,提供快速样品成像和分析能力。它配备了一个野外发射枪系统,允许在0.5-5纳安培的高主光束电流下进行精确的样本量控制。这允许以各种放大倍数成像,以获得最大的视野和分辨率。SEM配备了包括二次电子探测器和反向散射电子探测器在内的多种检测器系统,以提高图像对比度和提高焦点深度。JEOL 35使用自动化的舞台系统,能够精确的样品定位和精确导航到样品的不同区域。舞台提供280mm x 280mm的最大移动范围。它还具有一个最大尺寸为800mm x 800mm的大型标本室,允许对大型样品进行成像。SEM由高速数字成像系统提供动力,该系统将来自探测器和电子光学器件的数据相结合,以创建样品的数字图像供进一步分析。35还包括用于图像增强、操作和分析的创新软件。这些是提供图像分割、光谱分析和线条轮廓集成等特征的集成特征。此软件允许用户进行精确测量、分析数据和创建3 D模型。JEOL 35的设计允许用户进行精确的测量,分析复杂的数据并操纵图像从样本中提取最大数量的信息。其多才多艺的设计、鲁棒性和高性能使其成为材料科学、矿物学和地质学等多个领域的理想成像工具。
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