二手 JEOL 35 #9044656 待售

JEOL 35
ID: 9044656
Scanning electron microscope (SEM).
JEOL 35扫描电子显微镜(,简称SEM)是利用电子束观测样品表面细节的高性能设备。电子束的轴线通过使用静电透镜聚焦在样品上,而能量分析仪设备则调整光束的强度以达到最佳图像对比度。样品位于顶部加载阶段,可以用三维控制操作,以正确定向所需的成像区域。35 SEM提供了多种功能和附件,包括辅助电子探测器、反向散射电子探测器、自动化通用信息系统以及用于3D成像和分析的EDS®倾斜探测器。这种尖端设备还允许用户采用特殊的样品制备技术来正确检查各种材料。其中两种称为Cs校正成像和低真空SEM的技术专门用于处理导电不良、易碎或非导电样品。JEOL 35 SEM具有出色的分辨率能力,最大分辨率为1.4nm。此外,它的工作非常安静,振动低,使得周围的环境适合光谱分析。其操作和环境条件也被设计为便于操作单元和维修部件;从而大大减少了停机时间。35 SEM是一种可靠、高性能的仪器,可提供出色的分辨率,同时确保最高安全标准。此外,SEM先进的成像机使其易于配置,以满足各种分析要求。JEOL 35 SEM凭借其精湛的特点,为开创性的研究和创新奠定了基础。
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