二手 JEOL 35S #9375350 待售

JEOL 35S
ID: 9375350
Scanning Electron Microscopes (SEM).
JEOL 35S是一种扫描电子显微镜(SEM),具有较大的景深和高分辨率成像能力。该仪器视野广阔,提供高对比度图像,可用于精确测量和分析。该检测系统具有高灵敏度和低噪声底板,能够准确估计样品特征及其大小。该系统还可以容纳多种样品类型,包括导电材料和非导电材料,提供广泛的成像能力。35S的设计基于由镍/荧光粉(apochromat type)制造的柱状透镜,该透镜是为最大分辨率而建造的。它在微观分析过程中也不会产生热失真,并提供所有放大倍数的高强度。JEOL 35S的主要电子源是一种钨场发射枪,可在多种环境下操作。1-30 kV的空白加速电压范围为成像提供了广泛的动态范围。该枪提供低背景电流噪声,使得拍摄小型和详细样本的图像成为可能。35S上的探测器是由12个二次电子(SE)探测器组成的阵列,由一个柱内偏转器和一个环形亮场(ABF)探测器组成。ABF探测器可提供高分辨率的放大倍率成像,而偏转器可增强非导电表面图像的对比度。其他探测器包括反向散射电子探测器(BSED)和阴极发光探测器(CLD)。JEOL 35S配备了一个机动级,允许X、Y和Z轴上的样品移动以进行精确定位。显微镜的软件易于使用,具有自动聚焦、对比度增强和先进的图像处理能力。35S也可以用它的电子微探针进行微观分析。它支持能量色散X射线(EDS)和波长色散X射线(WDS)光谱测量成像之外的元素组成。总体而言,JEOL 35S具有高分辨率成像能力,可以从各种样本类型中捕获精确的图像。它能够容纳列内和环形探测器,因此适合不同的应用。此外,它的软件特性和样品操作的灵活性使它成为任何实验室都非常可靠和宝贵的工具。
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