二手 JEOL 4500 #9253502 待售

JEOL 4500
ID: 9253502
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) (2) Columns: 30 kV Column with LaB6 electron gun used in SEM 30 kV Ion column with Ga+ion source to allow in FIB FIB Resolution: 5 nm @ 30 kV Accelerating voltage: 1 to 30 kV Magnification: 30x to 300,000x Maximum beam current: 30 nA @ 30 kV SEM Resolution: 2.5 nm @ 30 kV Accelerating voltage: 0.3 to 30 kV Magnification: 5x to 300,000x.
JEOL 4500是一种先进的扫描电子显微镜(SEM),用于微量和纳米级的材料分析和成像。这台扫描电子显微镜配备了一个能量色散X射线探测器(EDS),可以测量样品表面上元素的波长和化学成分。4500旨在为各种材料提供高分辨率成像。SEM配备了内置双束技术,由高速二次电子(SE)检测器和能量较低、分辨率较高的成像检测器组成。这种组合使得它适用于各种高分辨率成像技术,如线扫描、二次电子成像和反向散射电子成像。显微镜还提供快速成像速度和半自动聚焦系统,以减少操作员疲劳,提高操作员精度。JEOL 4500提供2 nm的最大成像分辨率,非常适合详细捕获结构,包括薄膜、纳米线和集成电路。SEM还配备了高灵敏度EDS检测器,可以检测样品表面上微量元素到十亿分之几的浓度。与传统的SEM相比,4500提供了改进的电子枪灯丝寿命,典型的寿命长达4000小时。这延长了维护之间的时间,并在长时间的使用过程中保持了仪器的稳定性。SEM还采用了专利场发射器设计,以提高电流密度,从而产生更高的电子产率和减少光束模煳。JEOL 4500由于其内置的自动化功能而易于操作,例如扫描序列设置、定格采集、电动级控制和自动聚焦。显微镜还配备了高灵敏度的数字计算机,用于存储用户设置和图像数据。数位电脑也被用于控制测量参数。总体而言,4500是一种先进的扫描电子显微镜,用于材料分析和成像。与传统的SEM相比,它提供了更好的分辨率和准确性,同时还具有自动化的特性,以及长时间使用的持久电子枪灯丝。
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