二手 JEOL 5600 #9157311 待售

JEOL 5600是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于研究材料的表面形态和微观结构，因为它具有很高的分辨率。显微镜配有单色钨丝光源，对低导电性样品进行了优化。其最大加速电压为30千伏，有限工作距离为4mm。5600 SEM还具有0.8nm的小光斑尺寸用于高分辨率成像。它配备了用于能量色散X射线（EDX）分析的Everhart-Thornley（ET）探测器和用于图像采集的二次电子（SE）探测器。在4mm/mrad的分辨率下，该显微镜可用于高分辨率成像和无机及有机材料分析。JEOL 5600旨在提供专门针对半导体器件的定量图像分析，如晶体管、二极管和C-MOS电路。SEM还能够使用EDX探测器进行元素分析,对样品中元素的材料组成和化学状态提供精确的映射和定量,直至原子质量序数超过200的元素。此外，5600还配备了一系列用于透射电子显微镜（TEM）的探测器，可用于测量薄膜厚度和测量多晶材料的晶粒尺寸。此外，借助电阻加热系统，利用电子束将样品加热至真空1000˚C，可以实现原位熔融和退火。此外，JEOL 5600采用数字图像处理技术和计算机控制系统，可实现快速数据处理和高精度图像重建。它还具有数字信号处理器（DSP）和用于高速数据采集的并行端口等可选附件。总而言之，5600是一种强大的扫描电子显微镜，能够对有机和无机样品进行微观结构分析。它具有高分辨率成像、EDX分析和TEM功能,使其成为一个通用且先进的SEM,并且对于科学和工业研究具有高度的可靠性和准确性。