二手 JEOL 6340F #9139647 待售

JEOL 6340F
ID: 9139647
晶圆大小: 6"
FE scanning electron microscope (SEM), 6".
JEOL 6340F是一种高性能扫描电子显微镜(SEM),设计具有增强的成像能力和一套广泛的分析工具,用于工业、科学和教育应用。利用高性能的EDS系统和集成的EBSD检测器,该SEM提供了高细节图像和精确的分析结果,并改进了材料特性。JEOL 6340 F包括一种50kV场发射枪,能够实现更高分辨率的图像和提高成像速度,具有更大的景深和对比度。试样台在低振动频率下保持静止,提高了成像精度,提高了放大倍率。腔室提供150毫米的最大样本量,具有一个可旋转的台阶和大约12千克的试样容量。该腔室还配备了液氮冷却腔室,用于低千伏成像,提供出色的图像质量,以便于对细腻或具有挑战性的样品进行分析。除了卓越的成像功能外,6340F还包括一套分析工具,可以进行精确的元素和曲面分析。SE成像模式允许广泛的信号谱提供完整的化学元素信息,二次电子成像允许元素映射以实现更大的样品细节。电子反向散射衍射(EBSD)允许表面表征和测量金属、陶瓷和水泥中的晶界和其他性质。EDX模式通过单个原子分辨率提高了检测精度和灵敏度。再者,众多的探测器可以整合到腔室中以扩展能力,如能量色散X射线光谱、X射线衍射和激光诱导击穿光谱(LIBS)。所有这些分析能力使6340 F能够提供全面的表征和分析性能,使其成为材料科学和工业应用的理想工具。
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