二手 JEOL 840A #9157331 待售

JEOL 840A是一种用于许多材料科学和工业应用的扫描电子显微镜（SEM）。它具有由聚焦离子束（FIB）、二次电子（SE）和反向散射电子（BSE）探测器组成的中间真空三束设备。SEM分析可产生高达100,000倍的高分辨率图像。此外，SEM图像能够呈现表面形态、元素浓度或晶体结构。840A采用S/TEM（扫描/透射电子显微镜）双柱配置，具有多功能性。这允许对电子透明样品进行高分辨率成像，以及常规的扫描电子成像。宽广的中间真空室与气场发射源和热场发射源兼容，具有多条SE和BSE模式的气线和入口线。此外，JEOL 840A提供了一个可选的全自动FIB准备的SEM成像功能，允许获取电子透明图像和FIB准备的SEM成像样品。840A提供高级功能,例如轴上和离轴胶片厚度和组成测量、样品扫描自动识别系统、环形探测器、可变压力操作和数字图像模拟功能。SEM的一些高级功能允许对样品结构进行定量分析。轴上测量单位在实时成像时测量材料厚度，而离轴检测器则以加速采样率测量样品的元素组成。此外,SEM还提供自动图像配准和自动扫描功能,用于免提样本分析。JEOL 840A使用图像处理机器和软件对SEM分析数据进行数字化、存储、处理和存储。此外,该工具还提供了出色的后处理功能,包括测量处理、元素映射、图层映射、图像处理和3D重建。总之，840A是一种通用、先进的扫描电子显微镜，具有高分辨率成像和先进特征。它能够对各种样品提供详细的表面和元素分析，适用于各种工业和材料科学应用。