二手 JEOL 845A #9157332 待售

JEOL 845A是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于高分辨率成像和分析多种材料。它利用能量色散X射线探测器（EDS）和高分辨率二次电子探测器（SE）提供卓越的成像和分析能力。845A等SEM使研究人员能够获得各种信息，如化学成分、晶粒大小、表面地形和结晶相。JEOL 845A使用最大光束压力为3 nA的钨丝，允许非常高分辨率成像。它的高压光束扫描系统允许快速的图像采集，并且样品架的可调工作距离允许在大样品中有更大的灵活性。845A配有一个反向散射电子探测器，用于探测和绘制样品表面的微观地形，从而能够根据材料的组成来区分材料。JEOL 845A随附一个可选的能量色散X射线探测器（EDS）,允许对样品进行元素分析。其低真空操作使其能够以比其他SEM更高的放大倍率分析非导电材料。EDS检测器提供了关于样品成分组成和分布的附加信息，可用于确定相分数、识别微量元素或确定粒度分布。845A提供快速的信号处理和图像采集,使其适用于需要高度详细成像的难以处理的样本。它配备了自动对准和对准校正系统，并标配了功能强大的放大控制器，可在无需人工干预的情况下精确聚焦样品。此外,最终用户还可以调整其它参数,如电压和电流,以优化图像质量和信号强度。总体而言,JEOL 845A提供了一套广泛的特性和功能,使其成为高分辨率成像和分析各种样品材料的绝佳选择。它使用可选的EDS检测器捕获各种样本信息的能力使其成为研究人员寻找详细分析结果的强大工具。