二手 JEOL ARM 200 F #9160516 待售
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ID: 9160516
Scanning electron microscope (SEM)
Electron gun: Cold field emission gun
Accelerating voltages: 80, 120 and 200 kV
Aberration corrector: CEOS Hexapole type aberration corrector
Camera: No
GIF Spectrometer: No
EDS Analysis: Diode JEOL
EELS Spectrometer:
Gatan imaging filter
Quantum ER model
Detectors and camera:
Ultra scan CCD camera (4Kx4K)
STEM-HAADF
STEM BF/DF
Specimen holders:
Single and double tilt holders
Single tilt cryo holder
Tomography holder
Performances:
Point resolution: 0 075 nm (200kV) et 0 08 nm (80 kV)
Lattice resolution: 0.046 nm (200kV) and 0.055 nm (80kV)
Energy resolution:
0.40 eV (Emission current: 20 pA)
0.26 eV (Emission current: 1 pA).
JEOL ARM 200 F扫描电子显微镜（SEM）为常规实验室工作和研究提供了卓越的成像能力。高性能设备，全方位分辨率5 nm，非常适合有机物和无机物的成像。该仪器非常适合广泛的应用，包括晶体学、故障分析、材料成像及其物理和化学性质。该系统包括用于真实3D成像的气态二次电子检测器（G-SE）、用于EDS微分析的离子源，以及用于最大限度提高超细表面特征对比度的大型低背景检测器。ARM 200 F SEM提供真空环境,放大倍数范围从8倍到500,000倍不等。它还配备了双电子枪单元，用于优越的光束稳定和控制。该机器的先进功能包括一项专利的聚焦离子束技术,用于创建样品的横截面。它还配备了探针校正工具，以确保最佳的图像质量。此外，该资产还提供自动化操作、计算机控制以及高层级等一系列附件，用于分析较大的样品，以及用于样品分析比较的数字成像模型。强大的JEOL ARM 200 F SEM是电子显微镜界的可靠工具。它以经济实惠的价格为复杂的映像和分析要求提供卓越的性能。设备用户友好，提供直观直观的用户界面。坚固可靠的结构提供了极好的耐用性,确保系统在未来很长时间内将继续提供可靠和准确的结果。
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