二手 JEOL ARM200CF Super X #9274124 待售

JEOL ARM200CF Super X扫描电子显微镜（SEM）是当今市场上最先进的扫描电子显微镜之一。是材料科学、材料分析、医学研究等应用的理想选择。该系统使用冷凝器透镜提供高达200kV的高分辨率成像,最多可同时连接四个样品支架。ARM200CF Super X SEM具有卓越的聚焦深度（DOF）控制机制,可提供更大的景深,使图像保持在聚焦平面内,而无需使用多种成像条件。它还具有独特的野外发射枪（FEG）技术，能够产生优于传统SEM的信噪比，从而实现更高分辨率的成像。FEG技术还能够更快地扫描以提高吞吐量。此外，JEOL ARM200CF Super X SEM采用了先进的二次电子成像（SEM PED）技术来限制样品受到电子源与样品界面的污染。利用二次电子检测以及XEDS、ESP和Crystal Orientation Mapping等分析技术，提高了这种地形成像方法的分辨率和细节。ARM200CF Super X SEM还提供了一系列用户友好的功能,包括自动晶圆分析和例行/半自动编程,以及用于样品定位和精确操作的自动对焦系统。此SEM的卓越性能和用户友好特性使其成为要求苛刻的映像应用程序的理想选择。