二手 JEOL BZG-71CSTSCLPL #9282273 待售

JEOL BZG-71CSTSCLPL扫描电子显微镜（SEM）设计用于高分辨率成像和分析硬质和软质材料。这台先进的仪器采用自动真空系统准备样品进行观测，并配有反向散射电子探测器，使用户可以同时查看表面和内部结构。BZG-71CSTSCLPL还有一个综合环境室，允许用户在受控的大气和温度条件下检查样品。该单元配备了野外发射枪（FEG），使JEOL BZG-71CSTSCLPL能够达到10纳米以上的分辨率，提供出色的图像细节和清晰度。这种高分辨率与强大的数字信号处理（DSP）技术相结合，使得成像薄而细腻的样本成为可能。BZG-71CSTSCLPL还有一个自动化的舞台和XYZ运动控制，允许在多个方向上对同一个样品进行可重复成像。在功能方面,JEOL BZG-71CSTSCLPL提供了多种成像和分析模式。此SEM能够使用基于3D ZYX的自动成像系统进行二维成像和三维重建。对于元素分析，SEM结合了质子辅助X射线检测器和能量色散X射线光谱（EDS）检测器，允许使用者确定样品的化学成分。BZG-71CSTSCLPL是一个令人印象深刻且用户友好的SEM,非常适合用于工程、地质、材料科学、医学研究等多种应用。这款高效的SEM提供了令人印象深刻的多种功能组合,使其成为多种类型材料成像和分析的首选。凭借先进的成像能力和自动化设计,JEOL BZG-71CSTSCLPL是满足各种复杂成像需求的理想解决方桉。