二手 JEOL BZG-72WCST8H #9282258 待售

JEOL BZG-72WCST8H是一种具有场发射枪（FEG）电子源的最先进的扫描电子显微镜（SEM）。此SEM提供了真正的低真空成像,工作真空为2.0 Pa,提供了具有出色分辨率和高质量成像的真实视野。该枪寿命长，以惊人的1.4 nm分辨率运行。SEM采用了新设计的专利偏转系统，该系统集成了高速反应性气束遮挡器及其相关机械元件，可实现最佳成像。此功能提供超低暗电流噪声和高速电子束扫描,以捕获最精细的细节,并降低损坏样品的风险。SEM有一个集成的光束减速系统，用于提高图像对比度和细节分辨率的亮场图像和光束扫描失真校正。柱孔径上的内置二阶校正可在整个成像区域实现高空间分辨率和均匀点扩展函数（PSF）。通过高速电子束扫描，BZG-72WCST8H减少了图像中的伪影和噪声。SEM中的柱内能量滤波器和分析能力使元件分析能力超过其他系统所能达到的。其高性能WDS/EDS能力通过高电流矩阵检测器和精密软件得到增强，提供化学元素识别和SEM图像中存在的不同元素的定量分析。该软件支持用户友好的操作,便于部署和操作。它被设计为随着时间的推移与多个附件一起操作，如BSE探测器、RF线圈、镜头内探测器、SE探测器和EBSD。JEOL BZG-72WCST8H是各种实验室应用的理想设备。其高分辨率成像能力使得各种研究成为可能，例如材料科学、半导体晶圆级检查、纳米技术应用、故障分析等等。它的灵活性和易用性使得它几乎适合任何研究要求。