二手 JEOL FIB JFIB-2300 #9137333 待售

JEOL JFIB-2300场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）是一种高分辨率扫描电子显微镜，设计用于研究和工业市场。该JFIB-2300采用了一系列先进技术,能够对各种样品进行最佳成像。凭借其高分辨率的成像能力,该JFIB-2300有望获得同类产品中最高的性能。该JFIB-2300采用新型单色仪结构、双电子束FIB（场发射FIB）设备和直接检测系统设计，提供高分辨率成像。高灵敏度单色仪产生清晰、高对比度的图像，并允许对以前其他系统无法获得的样品进行分析。双电子束设计使样品区域的导航更加容易，并且在改变电子束参数时提高了响应速度。该JFIB-2300的最大分辨率为1 nm,可捕获高达800万像素的图像。野外发射枪的最大加速度电压为30kV，这样就可以对厚达8微米的样品进行成像。直接检测单元还允许高达8倍的放大倍率。该JFIB-2300还具有许多方便的功能，可提高其可用性，包括远程操作、角度/图像分析和自动测量机。其直观的GUI使其易于操作,并提供对各种分析信息和工具的访问。综上所述，JEOL JFIB-2300场发射扫描电子显微镜是一种先进的FE-SEM，设计用于研究和工业环境。该JFIB-2300具有高分辨率成像能力、强大的电子束工具和一系列方便的功能，能够产生清晰准确的各种样品图像。对于那些在成像资产中寻求高性能的人来说,JFIB-2300是一台理想的机器。