二手 JEOL FIB JFIB-2300 #9208934 待售

JEOL FIB JFIB-2300是一种具有内置聚焦离子束（FIB）的扫描电子显微镜（SEM）。它是一种先进的分析工具，用于成像和纳米加工应用。FIB JFIB-2300将SEM成像和FIB处理结合在一个系统中,以获得更高的分辨率和准确性。利用X-Y级和高精度直线电动机进行纳米定位，使FIB技术成为可能。这提供了以最高分辨率扫描样本的高级控制。它可以很容易地移动和旋转样品，以获得所需的图像。高能二次电子探测器能够以高精度和清晰度捕获图像。JEOL FIB JFIB-2300提供了广泛的光束电流和停留时间,以提高成像性能。它包括三个用于不同分析操作的探测器：二次电子探测器、反向散射电子探测器和镜头内探测器。这些探测器提供了广泛的分析数据，如相位和元素组成。FIB JFIB-2300的SEM柱产生高电压、高电流、高真空功率的组合。这允许对具有高分辨率和对比度的小特征进行成像,以及应用材料处理。此外，集成真空室确保在处理过程中没有污染，以防止样品损坏。JEOL FIB JFIB-2300是一种直观且易于操作的系统,可提供快速准确的性能。它还配备了一个自动化加载系统，以方便快速地加载样品。这样就可以快速分析和获取样本的数据,而无需手动操作。最后,它包括一台集成PC,该PC具有强大的映像和分析软件,可帮助用户快速识别样本特征。