二手 JEOL GC-310C/F #9384533 待售

JEOL GC-310C/F是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于纳米材料的分子成像、元素分析和尺寸测量。它的高空间分辨率使它能够在小到10nm的样品中达到最高级别的细节。该系统使用可变压力和冷场发射枪（CFEG）源进行试样检验和分析。显微镜具有用于元素分析的能量色散X射线光谱仪（EDS），为用户提供了多种材料中快速可靠的元素表征。它还具有专门用于光谱成像的光谱成像源（SIS），允许对不同材料相进行详细映射。该GC-310C/F包括一个HiGSD，它允许用户手动调整来自设备的反向散射信号，以获得更多的样品细节。SEM专为提供卓越的稳定性和精确成像而设计，即使在野外发射枪环境中也是如此。它采用独特的屏蔽设计，有助于减少远光电流和减少样品损坏。该GC-310C/F还包括一个高速捕捉图像的集成摄像头系统，以及一个集成的A-scan系统，用户可以在分析样本时轻松地测量样本的厚度。SEM旨在提高能效并利用较低的电力成本。它也足够轻，可以携带到不同的地点进行现场测试。对于已经具备必要专业知识和设备的实验室来说，设置过程简单明了。JEOL GC-310C/F有多种应用，包括材料研究、半导体制造和开发、纳米材料合成、薄膜分析、表面和界面分析以及器件性能测试。总体而言,JEOL GC-310C/F是一款功能强大且用途广泛的SEM,具有多种功能,是任何实验室的理想选择。