二手 JEOL JCM-7000 #293822367 待售
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ID: 293822367
优质的: 2021
Benchtop Scanning Electron Microscope (SEM)
JED2300 main power unit (EDS)
PHILIPS 272E2F/11 monitor
OPTI PLEX5090 PC
(2) ULVAC GHD-031A pumps
KURASHIKI KAKO 50-0506A table top isolator
DII-29010SCTR pump
Oil ULVOIL R‑2 Vacuum pump oil: 1L, P/N: 7801991072
OMT‑050/AM Exhaust filter element, P/N: 781168571
(2) Beam control components, P/N: 821362968
RP filter
Mirror tube
2021 vintage.
JEOL JCM-7000是一种多功能、用户友好的扫描电子显微镜(SEM),为材料科学、生物研究等需要详细表面分析的领域的广泛应用提供高分辨率成像能力。利用先进的成像技术和直观的操作,JCM-7000使研究人员能够轻松、精确地获得详细的形态信息和样品元素分析。JEOL JCM-7000配备了高性能电子光学设备,包括用于产生高能电子的钨热电子枪和用于将电子束聚焦到样品表面上的磁透镜系统。这一单元使显微镜能够在10倍至300,000倍的放大倍数下实现高分辨率成像,使研究人员能够以纳米尺度可视化精细的表面细节和结构。JCM-7000的主要特点之一是其可变压力能力,它允许在广泛的环境条件下对样品进行成像。显微镜配备了差分泵机,能够在低真空条件下成像,减少样品制备的需要,并在分析过程中尽量减少样品损坏。这使得JEOL JCM-7000非常适合用于研究非导电样品、水合样品和其他难以与常规SEM成像的具有挑战性的材料。JCM-7000还具有在高真空和可变压力模式之间无缝过渡的特点,使研究人员能够轻松地在不同的成像条件之间切换,以优化图像质量和数据采集。显微镜包括一个用户友好的界面,具有可定制的成像参数和控制选项,使新手用户和经验丰富的研究人员都可以访问。除了高分辨率成像,JEOL JCM-7000通过其能量色散X射线光谱(EDS)工具提供先进的元素分析能力。EDS检测器能够检测和分析电子束激发过程中从样品发出的X射线,为样品元素组成提供有价值的信息。结合高分辨率成像,EDS资产使研究人员能够将结构信息与元素数据关联起来,从而能够对各种材料进行全面的表面分析。JCM-7000还配备了先进的成像和分析软件,使用户能够轻松处理和分析获取的数据。该软件包括用于图像增强、测量和粒子分析的工具,以及与外部数据库集成进行样本比较和分类的工具。研究人员可以生成详细的图像图、元素图和定量数据报告,进一步增强他们对样本性质和特征的了解。总之,JEOL JCM-7000扫描电子显微镜提供高分辨率成像、元素分析和通用成像功能,用户友好且高效。JCM-7000具有可变压力能力、先进的EDS模型和直观的软件界面,非常适合需要详细的表面分析和表征的各种研究应用。
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