二手 JEOL JEM 100C #9408448 待售

JEOL JEM 100C是专门为满足纳米级成像和分析需求而设计的扫描电子显微镜（SEM）。100 C能够对各种样品进行高分辨率成像和光谱分析。这种通用仪器可用于洞察各种材料的微观结构和化学成分，从有机聚合物和纤维到半导体和金属。JEM 100C的核心是提供卓越亮度和分辨率的多极肖特基野外发射枪（FEG）。它利用单色仪选择单个波长的电子，增加信噪比。加上透镜像差低，导致了高达0.07nm的极高分辨率成像。此外,超高真空（UHV）内室可确保样品信号不受环境气体的干扰。该仪器具有一系列自动化功能，如自动化样品装载、舞台驱动和样品对准。它还包括用于研究工作的集成处理软件,使数据的无缝管理变得容易。100 C还配备了自动真空泵送系统，允许系统快速撤离。JEOL JEM 100C能够以广泛的模式运行，包括二次电子成像、反向散射电子成像和电子束感应沉积。它具有利用能量色散和波长色散X射线光谱（分别为EDX和WDX）检测和分析样品元素组成的能力。对于需要最高分辨率图像和分析多种材料化学成分的应用，JEM 100C是一个极好的选择。其低像差透镜、高效的FEG和UHV系统提供卓越的成像和分析能力。这些功能共同使JEOL JEM 100C成为寻找清晰、高分辨率图像和精确元素分析的人的理想工具。