二手 JEOL JEM 1010 #293607208 待售

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ID: 293607208
Transmission Electron Microscope (TEM) Does not include camera.
JEOL JEM 1010是一种扫描电子显微镜(SEM),用于在微米和纳米水平上对材料进行非常详细的成像。此SEM使用户可以使用高性能映像解决方桉访问示例的3D视图。JEM 1010可以放大对象高达300,000x,使用户甚至可以观察到最微小的表面特征,并提供无与伦比的细节和准确性水平。JEOL JEM 1010配备了0.1- 30kV的加速电压、二次电子探测器和电视摄像机,方便并行成像。这个SEM还包含一个Everhart-Thornley探测器,它提供了出色的信噪比和空间分辨率来检测甚至最小和最复杂的特征。此外,该设备还配备了分束检测系统,以减少拍摄每张图像所花费的时间,并提高SEM图像的信噪比。为了进一步提高图像分辨率,JEM 1010还包含内置的Miller Index控件。MillerIndex允许从屏幕上的样本图像获得高达原子分辨率的特征。Miller Index利用投影式电子枪和驱动Turbomolecular泵送装置,产生高精度、高质量的图像。JEOL JEM 1010还包括一个直观、用户友好的软件平台,具有一系列功能,以提高拍摄图像的质量。这些包括对比度和亮度控制、图像增强、EDX、EELS和PGT分析等功能。此外,该平台允许用户保存、存储和传输图像,还提供了广泛的材料库选择,包括金属、合金和其他材料。最后,JEM 1010是研究和工业应用的理想选择。其多才多艺的设计和先进的成像能力使它成为希望获得样品详细分析和细分的用户的可靠、经济高效的选择。
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