二手 JEOL JEM 1010 #293725155 待售

JEOL JEM 1010是专为表面分析和先进材料表征而设计的高分辨率扫描电子显微镜（SEM）。该系统由电子柱、样品级、探测器单元和电源单元组成。该柱是真空密封阳极灯丝产生电子，然后通过冷凝器透镜聚焦。这些电子随后入射到产生二次电子、反向散射电子、X射线和其他信号的样品上。样品级用于将样品移入电子束的焦点。探测器单元可以检测到次级和反向散射的电子或X射线，以便生成样品表面的图像。电源单元用于控制电子柱的加速电压，允许在一定的电子能量范围内扫描样品。SEM允许研究到纳米级的表面特征。与能量色散X射线光谱（EDS）耦合时，用于测定被观测材料的元素组成和化学状态。JEM 1010有两个探测器可用；压缩立体角有限检测器（SALD）和透镜内检测器（ILD）。SALD允许180度的收集角度,而ILD允许90度的收集角度。这两种探测器都具有很高的收集灵敏度和可靠性。JEOL JEM 1010还有一个自动化的标本阶段，允许标本在操作员的指挥下快速移动。此SEM可以收集各种放大倍数的数据,包括高达1000,000X的高放大倍数。这种高精度的SEM非常适合一系列应用,如表征表面形态、结晶度、晶粒尺寸、表面完整性、元素组成和结构缺陷。它的高分辨率和准确性也使得它适合许多与金属、纳米材料、聚合物、陶瓷和生物样品有关的材料科学研究。最后，该仪器还常用于故障分析、MEMS表征以及工业测试与开发。