二手 JEOL JEM 1011 #293658628 待售
看起来这件物品已经卖了。检查下面的类似产品或与我们联系,我们经验丰富的团队将为您找到它。
单击可缩放


已售出
ID: 293658628
Transmission Electron Microscope (TEM)
Tungsten
Does not include:
CCD
BRUKER EDS.
JEOL JEM 1011是一种先进的扫描电子显微镜(SEM),设计用于对从生物到矿物和材料科学样本的各种样品进行成像和分析。它能够在高真空和低真空中运行,具有大视野、光电倍增管检测和先进的控制系统。JEM 1011提供高分辨率成像,在二次电子(SE)模式下解析度低至1nm,在反散射电子(BSE)模式下解析度低至0.5 nm。SEM利用极高能量的电子束来记录样品表面的图像。电子源是加热的钨丝,或称场发射器,由反馈系统控制,允许精确控制束电流、能量和光斑大小。所有参数都可以调整以提供特定类型样品的最佳条件。样品支架被设计成可以容纳标准的SEM样品,并且可以在两个方向上倾斜,允许从不同角度获取图像。为检测样品发出的电子,JEOL JEM 1011配备了大直径、低噪声光电倍增管探测器。它设计用于高精度定位,具有低噪声前置放大器,可用于最佳信号检测。检测器可以检测反向散射电子、二次电子或各种类型的X射线(特性、衍射等)。为方便对大表面成像,JEM 1011配备了自动化舞台和样本导航系统。这使用户能够快速准确地扫描样本曲面,并提供示例概述,以更快速地识别感兴趣的区域。此外,JEOL JEM 1011配备了强大的软件套件,允许用户调整SEM的所有设置,以及分析和操纵图像。这包括用于定量图像分析的工具、用于大视野的图像缝合以及一系列图像增强算法。JEM 1011为样品表面的成像和分析提供了广泛的功能,使用户能够快速准确地表征样品的特征。它结合了高分辨率成像、精密的样品处理系统和直观的软件,使得JEOL JEM 1011成为高分辨率成像和分析的理想仪器。
还没有评论