二手 JEOL JEM 1200EX II #9250371 待售
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ID: 9250371
Transmission Electron Microscope (TEM)
Goniometer stage
Side mount CCD camera
40 to 120 kV
Magnification: 150x to 300,000x
HT Tank leak.
JEOL JEM 1200EX II是一种高性能扫描电子显微镜（SEM），专为多功能纳米干扰化应用而设计。该模型具有用于改进电子光学和更高分辨率成像的野外发射枪（FEG）。显微镜还结合了高稳定性的x-y级，用于快速准确的样品扫描。SEM包括一个镜头内检测器（IED）来检测二次电子（SEs）和一个反向散射电子（BSE）检测器来提供对不同样品电导率更好的对比。电子GUN具有从1kV到30kV、样品电流到200nA的加速电压，是材料科学、生物和工业研究中纳米干扰化应用的理想选择。JEOL JEM 1200 EXII配备了超高真空（UHV）技术，确保高水平的显微镜真空和清洁，使样品的结构可以观察到，而不受空气分子或光束中带电粒子的任何干扰。该显微镜还可用于分析冷卡盘附件和氮气冷却至极低温度的冷冻悬浮样品。用16位CCD相机获得高分辨率3D图像，提高了样本图像的精度和分辨率。数码相机被连接到可以使用亮场（BF）探测器、暗场（DF）探测器和反向散射电子（BSE）探测器的SEM炮塔。JEM 1200EX II提供了广泛的附件选择,包括阴极发光（CL）探测器、能量色散光谱（EDS）探测器、有限元场发射透镜和自动扫描样品的电动x-y级。与JEM 1200 EXII捆绑在一起的应用软件允许对示例进行可定制的成像和分析。软件包含几个预设的图像参数和自动优化功能,使用户能够获得一致的图像性能。也可以以不同格式存储图像和准备演示文稿。可选的用于自动化和高级分析的Analyze软件进一步改进了此模型所获得的成像结果。总体而言，JEOL JEM 1200EX II是纳米干扰化应用的理想选择。它具有出色的成像功能,而且易于使用。软件集成允许精确成像和自动图像处理，使其成为研究人员的宝贵工具。
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