二手 JEOL JEM 1200EX II #9250558 待售
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ID: 9250558
Transmission Electron Microscope (TEM)
Magnification: 50x to 500,000x
GATAN ORIUS CCD Side mount digital camera
Standard magnification mode:
SAP10B: 800 to 600,000 times, 30 steps
SHP10: 1,200 to 1,000,000 times, 30 steps
SAP10: 600 to 500,000 times, 30 steps
Selected area magnification mode:
SHP10B: 4,000 to 500,000 times, 22 steps
SAP10: 2,000 to 250,000 times, 22 steps
Low magnification mode: 50 to 1,000 times, 14 steps
Electron diffraction camera:
Display: Digital, film printout
Selected area electron diffraction:
SAP10B: 150 to 3,500 mm, 15 steps
SHP10: 100 to 2,500 mm, 15 steps
SAP10: 200 to 5,000 mm, 15 steps
High disperation diffraction: 4 to 80 m, 14 steps
High resolution diffraction: 337 mm
Electron gun:
Type: Cool beam
Filament: Pre-centered hairpin type, DC heating
Bias: Self bias, continuously variable
Alignment: Electromagnetic 2-stage interlock system
Anode chamber valve and electron gun lift:
Built-in
Pneumatic control
Condenser lens: Electromagnetic, double condensers
Beam tilting angle: Maximum 6°
Specimen exchange: Airlock mechanism
Loading capacity: (2) Specimens
Specimen movement range:
X, Y Directions: ±1 mm
Z Direction: +0.2, -0.3 mm
Camera chamber:
Film size J: 59 mm x 81.5 mm
Loading capacity: Up to 50
Feeding and shutter: Automatic and manual
Exchange mechanism: Airlock type
Evacuation system:
Vacuum pumps: Oil rotary pump and oil diffusion pump
Ultimate pressure: 10^-5 Pa
Cooling water:
Flow space: 5 I/min
Pressure: 0.1 to 0.5 MPa
Temperature: 15°C - 20°C
Ground terminal: 100 ohms or less, 1
Power supply: 200-240 V, 50/60 Hz, 6.5 kVA, Single Phase.
JEOL JEM 1200EX II扫描电子显微镜（SEM）是一种精密的科学设备，非常适合在微观层面研究固体材料的物理性质。SEM基于从样品表面释放和检测电荷的原理运行，允许高分辨率成像和分析。通过使用电压、放大倍率和工作距离等变化的工作条件，SEM可以产生分辨率高达4纳米的图像，景深为30 µm。JEOL JEM 1200 EXII专为各级用户而设计。其用户友好的界面使其易于控制和设置，并带有专用的按钮用于常用功能。操作员可以轻松地在多光束SEM成像等成像模式之间切换，以提高对比度和分辨率，或者通过反向散射成像来更好地识别表面特征。此外，显微镜还可配备多种配件，以增强其样品持有者、气体控制系统、自动化样品交换系统等性能和可用性。JEM 1200EX II结合了高性能、低网络复杂性和易用性,为一系列材料科学应用提供了最佳可靠的成像。它配备了野战发射枪和一套长期性能最大化的系统。这个系统过滤出枪室的碎片，延长枪的寿命，并提供一贯的高品质影像。电子枪还采用了高分辨率单色仪，以提高色彩精度和更好的图像对比度。JEM 1200 EXII可与各种环境条件如高压或低压、高温或低温，以及气体、液体或固体样品一起使用。利用其自动化的样品交换系统，显微镜可以在样品之间轻松切换，无需任何人工。此外,SEM还提供可选的软件选项来控制显微镜、测量和分析图像,甚至存储和处理数据。JEOL JEM 1200EX II是一种功能强大且用途广泛的扫描电子显微镜，旨在提供微观尺度的物体成像和分析。凭借其高性能、易用性和灵活性，显微镜可以帮助研究人员快速准确地分析各种应用的材料。
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