二手 JEOL JEM 1210 #149958 待售
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ID: 149958
优质的: 1994
Transmission electron microscope
Specifications:
For high contrast imaging at low to moderate magnifications (< 100,000x)
Used to image thin (< 200nm) samples of polymers and frozen hydrated solutions (surfactants,colloids, emulsions)
Maximum operating voltage: 120kV
Capable of imaging in high magnification (> 1,000x), low magnification, and diffraction modes
Minimum dose software
Free lens control
On-line measurement capabilities
Applications:
Conventional imaging and diffraction analysis
Cryo-transfer TEM of frozen hydrated specimens
Low-dose imaging of delicate specimens
Capabilities:
Accelerating voltage range 40-120 kV
Resolution 0.20 nm lattice, 0.36 nm point
Magnification from 50x to 800,000x
Graphical user interface with mouse control of most microscope functions
Film sheet type camera (can be upgraded to a digital camera system)
Includes:
Surrounding structure/desktop
Components to assemble system
Supporting documents, software disks, manual schematics
Tool Box and Manuals
Top Cl Lens
Flex Vacuum Lines
Penning Gauge Head
Pirani Tube, Top Vacuum Manifold
Film Receiving Boxes
Vibration Isolator Block and Air Line
Main Operation Video CRT Monitor
Main Gun lift Assembly
Keyboard
EM 21010 Single Tilt
Specimen Holder
Filaments
Spare Parts for ACD Heater
Extender PCB
Water Valve
Water Flow Meters
Misc. Parts
Assorted Cables
Film ING CRT
Cables and Binoculars
Air Compressor
HT Cable and Switch
Grounding Arm and Springs
Gun Lift Arm. Anode Chamber
Gun Ceramic
ACD Tank
Braided Copper
Anode Flexible Vacuum Line
Camera Adapter
Gun Chamber
Always under OEM service contract
De-installed by OEM and stored Q4 2006
1994 vintage.
JEOL JEM 1210是由JEOL Ltd设计制造的扫描电子显微镜（SEM）。该SEM利用野外发射枪（FEG）阴极实现高分辨率成像和高倍放大。JEM 1210能够将电子加速到1.2 kV的能量，最大加速电压为10 kV。这款EM具有100毫米宽的标本舞台，配有变焦镜头系统，提供10倍至100,000倍的放大倍率范围。JEOL JEM 1210的电子光学器件提供了极好的分辨率和对比度，由FEG阴极产生的最小光子产生的噪声和低水平的杂散电子。EM配备了一个数字成像接口,可以获取样本的直接数字图像（全帧或图块扫描模式）,这些图像可以使用专用软件进行分析。JEM 1210配备了最小步长8nm的电动级。这样可以在需要时进行细微的微观调整,并能够对非常小的样品进行成像。它还具有一个反向散射检测器（BSD），它提供二次电子信号以增强对微小物体的成像和检测，以及一个可变压力检测器，使仪器能够在需要时在低真空中拍摄样品。JEOL JEM 1210除了适用于日常任务外,还能够执行复杂的多探测器分析,这是一种收集有关样本的广泛信息的方法,如组成、元素映射、表面地形、纹理、晶粒大小和形状。此外，它还能够检测到从4keV到10keV的各种能量，从而能够对各种粒子进行分析，包括一些用其他SEM方法看不到的粒子。在试样制备方面，JEM 1210配备了两个原位试样制备支架，允许温度控制阶段用于加热和冷却，以及原位沉积材料。此外,基于最新PC的软件还提供强大的图像处理功能,包括图像组成、亮度和对比度控制、粒子分析、直方图分析和3D成像。总体而言，JEOL JEM 1210是一种功能强大且用途广泛的工具，可用于科学家和研究人员的广泛应用。它具有很高的放大倍率、出色的分辨率和对比度,以及一系列的样品制备和图像处理功能。
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