二手 JEOL JEM 1230 #293820131 待售

JEOL JEM 1230扫描电子显微镜（SEM）是工业和科学应用中最主要的扫描电子显微镜系统之一。JEM 1230利用二次电子（SE）进行成像，也可用于二次离子质谱（SIMS）、样品中耗尽电压等电性能分析、扫描透射电子显微镜（STEM）分析。JEOL JEM 1230配备了触摸屏用户界面，简化了设备的操作，让用户能够快速访问和调整成像参数。该用户界面提供对扫描电子显微镜设置的访问，包括枪倾斜角度、物镜选择、图像聚焦、光束强度和加速电压。JEM 1230具有一个用于增强成像的冷场发射源,能够在低kV应用中成像样品（最低到100V个）,并且能够对要求更高的应用进行30KV。JEOL JEM 1230可用于生成高分辨率和分析数据,使其成为各种应用程序的理想选择。它能够产生高分辨率的图像,放大范围可达150,000X。JEM 1230还具有一个柱内可旋转的样品架，允许对样品进行旋转观察。此特征提供了增强分析样本的结构特征或几何的独特功能。此外，JEOL JEM 1230配备了自动化阶段和集成对准显微镜，允许用户快速高效地快速扫描样品。JEM 1230还配置了冷却探测器，这使得系统能够在各种成像应用中使用。JEOL JEM 1230控制和监控成像过程参数，以增强操作和安全。它还包括自动对准单元、光束电流控制机以及在成像过程中监测和控制试样温度的先进控制工具等功能。JEM 1230具有高清成像资产,可提高图像清晰度和色调范围。该模型允许以更高的细节和精确度对样品进行成像。成像设备专为小颗粒而设计，晶粒尺寸分辨率低至1微米。JEOL JEM 1230是一个先进的扫描电子显微镜系统，设计用于需要高分辨率和分析成像的工业和科学应用。它是最苛刻的成像应用的完美选择，从低kV成像到更高kV的应用，如SIMS和STEM。