二手 JEOL JEM 1230 #9115435 待售

JEOL JEM 1230扫描电子显微镜是一种场发射型扫描电子显微镜，能够在两倍于早期SEM的分辨率的情况下进行高分辨率成像。这种显微镜在比其他SEMs更低的加速电压下工作，这在对易碎样品成像时是有利的。JEM 1230装有高电流场发射枪。该枪经过研发，使施加在其上的加速电压可以从4 kV选择到30 kV。这样就可以进行从近场到远场作业的广泛成像。JEOL JEM 1230 SEM还有一个高灵敏度的表面温度控制系统，可用于在光栅扫描模式下控制样品的表面温度。这样可以在成像过程中调节试样的温度，以保存细腻的结构。JEM 1230能够从超导电到绝缘样品进行分析。这种显微镜上有专门的技术，如X射线荧光用于长距离分析，EDS用于元素组成分析。EDS系统包括一个能量色散X射线探测器，用于高灵敏度和分辨率。一个集成的SSC/EELS探测器能够对标本进行原子分辨率的现场分析。JEOL JEM 1230还包括一个计算机控制的光束遮挡器。当光束撞击样品或离开样品图像时,此设备会自动关闭光束。JEM 1230配备了提供20 kHz扫描速度的双摄像头和图像处理系统。它结合了高分辨率、高速成像性能和快速图像采集功能。显微镜还包括一个倾斜级，允许+/-15°的角度倾斜到试样级，并可用于地形分析缺陷。JEOL JEM 1230 SEM有一个全自动级，可进行直径可达10毫米的试样装载。总体而言，JEM 1230扫描电子显微镜是研究实验室和工业应用的理想工具。它的高分辨率成像和种类繁多的专门技术使其适合于各种各样的任务。它的自动功能也使它易于使用并有助于确保最高质量的结果。