二手 JEOL JEM 1230 #9245614 待售

JEOL JEM 1230是一种最先进的扫描电子显微镜（SEM），设计用于高分辨率成像和样品分析。该仪器采用能量色散X射线光谱仪（EDS）和超高分辨率STEM探测器，为材料的微观结构评估、故障分析、空间材料科学和材料评估等多种应用提供卓越性能。JEM 1230在最佳条件下提供高达5 nm的卓越分辨率。这样就可以对细微的细节进行成像,从而有助于表征样品的组成、结构和形态。显微镜使用倒置的180°倾斜几何形状,可确保样品从上往下成像。这提供了对大型样品进行高效表征而无需频繁重新定位的优势。JEOL JEM 1230使用高亮度、长寿命、低运营成本的肖特基野战发射枪（FEG）。这种尖端设计最大限度地减少了非导电样品的充电，并允许样品图像的出色对比度。而且显微镜具有高达135 kV的加速电压，以获得更大的景深和更高的分辨率。为确保高精度分析和一致结果，整合了各种自动化功能。其中包括图像对比度的自动优化、集成的基准系统和实时数字图像增强。此外，该仪器还有一个用于样品装载和定位的电动级，以及一个先进的过滤系统，它允许对低至1海里的粒子进行表征。或JEM 1230是一种高性能扫描电子显微镜，具有优异的分辨率和强大的特征集，用于对各种样品进行成像和分析。该仪器具有高亮度、低运行成本的肖特基野外发射枪（FEG）、可确保对大样品进行高效成像的倒置180°倾斜几何形状和高达135 kV的加速电压以提高图像质量。为了精确的样品分析和表征，JEOL JEM 1230集成了能量色散X射线光谱仪（EDS）和超高分辨率STEM探测器。此外，一些自动化的功能，如图像对比度的自动化优化和粒度的自动化优化，使得分析样本更容易、更快。这些特性结合电动舞台和实时数字图像增强功能，使JEM 1230成为材料微观结构评估、故障分析、空间材料科学和材料评估的绝佳选择。