二手 JEOL JEM 1400 #9199923 待售
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ID: 9199923
Transmission electron microscope (TEM)
Major components:
GATAN Ultrascan 4000
Peltier 4096 x 4096 bottom mount
(2) GATAN UK650C Tilt rotate single grid holders
JEOL EM-21010 Single grid and high tilt holder
MINUS K Custom low-frequency isolation platform
AMT XR41-D 2048 x 2048 Side mount camera
HASKRIS Air cooled chiller
JEOL Air compressor
GATAN Digital micrograph with tomography and auto-tune packages
Accessories (Pre-2007):
GATAN 655 Dry pumping station
EM-SQH10 Dual grid rotation holder
Hex-ring holder.
JEOL JEM 1400是一种具有集成能量色散X射线分析仪(EDS)的扫描电子显微镜(SEM)。这是分析和材料科学研究的宝贵工具,使微观结构的可视化和分析达到亚微米级的细节。它具有非常稳定和精确的自动化控制系统以及出色的分析能力。有多种SEM模式,包括低真空、现场观测的可变压力,以及用于检查冷冻水合样品的冷冻SEM。该仪器还包括一个用于定位样品的自动化阶段和一个用于装载/卸载样品、样品到样品的转移以及通过诸如扫描离子显微镜(SIM)或二次电子自动质谱(SEAP)等远程软件操作的自动化接口。JEM 1400的工作电压范围为0.5kV到30kV,分辨率为2azim(角)。其横向和垂直分辨率能力在1kV为0.7nm,在30kV为0.6nm。它还配备了柱内能量滤波器,提高了在较高电压下较小干扰的能量滤波能力。JEOL JEM 1400还包括电子束柱头、数字信号处理、自动曝光协议功能、多样本传输以及升级的图像处理系统等功能。探测器阵列灵敏度高,包括二次电子探测器和反向散射电子探测器。二次电子检测器具有较大的视野,允许在更大放大倍率下更快的成像。对于自动测量,JEM 1400包括一套计量软件,以方便在多个轴上进行自动区域和线性测量,以及使用集成的EDS进行自动元素组成分析。同样的自动化能力可以用于获取二次电子元素和反向散射电子元素以及组成图,使其成为有针对性的分析的理想选择。总体而言,JEOL JEM 1400是一种用途广泛、功能强大的扫描电子显微镜,适用于微观和纳米结构的各种分析和计量应用。其高效的自动化能力、精确的控制系统以及捕获和分析各种样品的能力,使其成为寻求高度先进能力的人们在母体科学领域的宝贵工具。
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