二手 JEOL JEM 2000EX MKII #9096281 待售

JEOL JEM 2000EX MKII是一种扫描电子显微镜（SEM），结合了高分辨率成像能力和多种环境能力。它可以分析空气中的样品，包括真空要求低的样品、液体和-196°C至500°C的温度。它具有+/-90°的偏转角和5nm的光斑尺寸-允许广泛的样品分析要求。其视场范围为2.2-1000 nm,具体取决于光束电流设置。JEM 2000EX MKII还配备了具有出色稳定性和增强性能的电子枪、提供低振动操作的独特岛柱、高稳定性4磁体物镜和纳米级分析设备。其模块化设计融合了彩色物镜校正系统、真空室和数字接口。纳米级分析单元提供分辨率和像素大小,可创建清晰明亮的图像,并具有出色的对比度。超高分辨率探测器机提供分辨率高达1 nm的超高分辨率图像。它还包含一个列内二次电子探测器、一个固态探测器工具和一个反向散射电子探测器，用于对从离子到大结构的任何样品大小进行成像。JEOL JEM 2000EX MKII由Celscan Pro操作资产提供支持,它允许用户快速、轻松地访问、存储和分析数据。此操作模型提供自动扫描和数据采集、扩展图像处理和图像处理功能以及高级校准功能。多专用应用软件提供图像采集、图像处理和分析工具，非常适合执行任何类型的样本分析。JEM 2000EX MKII的构建是为了提供最大程度的易用性,使用户能够专注于科学结果。总之，JEOL JEM 2000EX MKII是一种先进而强大的扫描电子显微镜，非常适合任何需要高分辨率、多重环境能力和稳健操作的应用。其多功能性和多功能性特征集使其成为广泛实验室和研究应用的绝佳选择。