二手 JEOL JEM 2000FX II #293636585 待售

JEOL JEM 2000FX II是一种在纳米结构材料、生物医学工程和材料科学领域进行高级研究的高性能扫描电子显微镜（SEM）。它提供接近原子尺度的分辨率，有助于可视化晶体和非晶体材料的微观结构。它具有独特的配置，结合高角度镜头内二次电子（SE）探测器和计算机控制的样品级，支持自动化观测能力。镜头内SE检测器允许低放大成像和成像，最高分辨率为1.7 nm（在20 kV加速电压下）。该探测器还能够对非导电材料进行成像。JEM 2000FX II的整体放大倍率为3,000-400,000 X,利用了一种具有单色仪的大功率120 kV野外发射枪,提供了一个长距离工作物镜。抽样阶段可以进行机动，以便在大面积上自动制图标本。利用自动阶段映射，可以对一个样本的相同区域进行多次扫描，生成更高分辨率的图像。包括SEM控制软件以简化手动操作。JEOL JEM 2000FX II是一个直观且用户友好的成像和表面分析系统。图像的可视化可以转换为数字格式，以便进一步分析和提高图像质量。扩展成像选项包括亮场、暗场、假色、偏振光和3D成像。支持若干采集模式以实现最佳成像,例如高速、大面积和单帧采集模式。显微镜还配备了用于EDX和XRF分析的自动化设备。这允许通过检测样品和光束之间相互作用产物的电磁辐射对样品进行化学和元素分析。此外，低真空成像模式支持所有这些分析操作，同时最大限度地减少离子散射和干涉模式的不利影响。为确保易于使用，JEM 2000FX II设计了一个单一的显微镜柱和六个探测器，可以组合在一个单元或单独安装的多合一探测器。它具有人体工程学设计，带有PC控制的图形用户界面，由外部安装的PC供电。通过直观的工作流程和操作友好的设计,它可以帮助提高研究工作效率。