二手 JEOL JEM 2000FX #9239696 待售

JEOL JEM 2000FX是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于纳米级结构的高级成像和分析。它拥有高分辨率探测器、可变压力操作和各种样品安装选项。JEM 2000FX具有3.5兆像素的高分辨率探测器，能够产生分辨率为0.6纳米的工作样品图像。这允许对小型纳米级物体进行详细的成像和分析。另外，检测器可以检测二次电子、反射电子和发射电子。这种多光束系统的设计使图像采集和处理比以往任何时候都更容易、更快。JEOL JEM 2000FX能够在可变压力和高真空模式下运行。通过改变显微镜腔内的压力，可以控制电子入射束与样品之间的相互作用，从而实现更好的分辨率。此外,由于具有额外的二次中和能力,成像过程也可以得到改进。JEM 2000FX还提供了广泛的样品安装选项,包括冷冻SEM、旋转盘和准备阶段。这些特征允许对各种样品，如生物标本或微结构进行有效的成像和分析。最后，显微镜附带了一系列先进的软件选项，如3D断层扫描、光谱分析或粒度测量，使研究人员能够快速准确地分析和处理他们的工作样本。总之，JEOL JEM 2000FX是一种先进的扫描电子显微镜，设计用于纳米级样品的高级成像和分析。它能够产生高分辨率的图像，并为样品安装和软件分析提供多种选择，使其成为纳米级研究领域任何人的理想选择。