二手 JEOL JEM 200CX #293751172 待售

JEOL JEM 200CX是一种适用于样品分析、成像和检查的超高分辨率扫描电子显微镜（SEM）。该200CX采用先进的赤铁矿FE-SEM电子柱和分析仪类型的超高分辨率（UHR）显微镜级，使用户能够以大约0.3纳米的最大横向分辨率和0.8纳米的传输分辨率捕获图像。该200CX还提供了极好的真空稳定性和磁场发射能力，可以维持真空水平长达24小时。JEOL JEM 200 CX的低功率范围是，在其最宽的孔径下，2kV和20nA，其高功率范围在160kV和20nA上是最宽的。在500kV和40nA可用的情况下,可以实现更高的放大倍率。200CX为用户提供2.6x10-6 torr的高真空压力，提供出色的图像稳定性和对比度。该200CX采用综合牛津仪器EDX系统，允许用户对样品进行元素分析。该200CX具有四轴操纵杆和自动X-Y级,使用户能够快速准确地定位所讨论的示例。采用了先进的超高分辨率SEM级,提供了0.3纳米的出色分辨率,而内置的偏转控制系统使图像的调整更加清晰。该200CX还设有一个外部抛光样品支架，用于放置正在检查的样品，以便直接观察样品表面和其他细节。用户还可以从3-D成像和大视野中获益,这是因为200 CX对样品表面具有高速度扫描功能。此外，200CX有手动对焦控制和自动取样位移控制，可设置在与显微镜相同的软件包中，使用户可以控制对焦，更准确地定位和分析舞台上的取样。总之，JEM 200CX是一种超高分辨率扫描电子显微镜，适用于样品分析、成像和检查。该200CX具有良好的性能和特点,如2.6x10-6 torr的高真空压力、用于元素分析的Oxford Instruments EDX系统、集成的四轴操纵杆和自动X-Y级控制、外部抛光样品支架以及0.3纳米的最大横向分辨率。这使200CX成为研究人员和科学家寻求高度通用和可靠的SEM的绝佳选择。