二手 JEOL JEM 2010 #293627916 待售
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ID: 293627916
Transmission Electron Microscope (TEM)
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JEOL JEM 2010是日本公司JEOL Ltd制造的现代扫描电子显微镜。它是公司首款高分辨率超失真仪器，采用冷场发射枪和像差校正器。这使得它能够在低放大倍率下提供出色的图像清晰度和无与伦比的对比度,以及更高的放大倍率以获得更多细节。其工作电压范围延伸至250 kV，使其适用于种类繁多的样品，包括大型无机样品。其专用的二级和三级电子探测器允许收集各种信号，如反向散射和高角度环形暗场（HAADF）图像。这使使用者在使用仪器时有更大的控制和弹性。JEOL JEM-2010还有一个柱式Gimbal舞台设计，允许在高放大倍数下进行更精确和精确的样本导航。这对于在处理需要精确导航的样本时识别某些特征非常重要。此外，JEM 2010配备了EDS（能量色散X射线光谱学）探测器，允许识别样品中存在的元素，并提供对其组成的见解。该仪器还有一个冷冻转移选项，允许样品在分析过程中保持恒定温度，从而消除了热失真的可能性，并确保更高的结果准确性。最后，JEM-2010有一个自动化和可编程的阶段，允许以最低的用户工作量和大大提高效率来轻松执行日常任务。该仪器还附带了一套软件包，包括用于采集和自动图像分析的MultiMaster软件，使其成为电子显微镜的多功能一体仪器。
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