二手 JEOL JEM 2010 #293639508 待售
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已售出
ID: 293639508
优质的: 1991
Transmission Electron Microscope (TEM)
Filament: Lab6
Accelerating voltage: 80kV to 200 kV
HT Tank: Insulating gas: SF6
Analytical object pole piece
AMT Camera: Bottom mount, 3296 x 2857 pixels, 9 Mb
Mag range: 2000 to 1.5M (Without AMT Camera)
Mag range: 26000 to 19.5M (With AMT Camera)
Electron diffraction camera length: 8 cm to 200 cm
Single tilt holder: Specimen capacity: 1
Double tilt holder
Motorized stage (X, Y, Z): ±1 mm
Specimen tilt angle: ±30°
Gun and column ion pump: Minimum pressure: 10^-8 torr with cold trap filled
HASKRIS Recirculating water chiller
THERMO FISHER NORAN System 7 EDS (SiLi)
1991 vintage.
JEOL JEM 2010是一款功能丰富的扫描电子显微镜（SEM）设备，专门为材料研究、故障分析和逆向工程应用而设计。它提供了多种功能来提供高分辨率映像和解决方桉。JEOL JEM-2010利用三个电子柱的组合，可提供15nm-10 μ m的观察范围，1kV时最大分辨率极限为1.2nm。它配有先进的透镜内Cs探针,可进行最佳光束聚焦,在高达200 μ A的高电流下工作。这样可以实现高精度和高精度的光束控制。JEM 2010能够产生多种成像模式，使用户能够通过能量色散X射线分析（EDS）揭示表面特征并执行元素映射。此外，利用电子束感应电流和电子束感应插入损耗的测量能力，可以同时获取样品电学特性和形态信息。JEM-2010还提供了广泛的SEM列,每个SEM列都可以根据当前应用进行定制。由空气或油气阻尼器组成的JEOL SEM防振系统确保稳定运行，而自动光束消光装置则保护来自电子束的物镜和样品表面。这种显微镜的标本级是可互换和机动的，用于手动或编程操作，行进范围为X 110毫米，Y 80毫米，Z方向20毫米。此外，它还配备了一个自动样品交换器和一些样品冷却选项，例如可选的低温扩展器。JEOL JEM 2010还设有一个自动电子控制机器，用于校正样品漂移并实时聚焦光束，以及一个强大的图像处理软件，可以用来分析数据。JEOL JEM-2010拥有多个样品持有者、强大的成像能力和先进的功能,是对样品进行详细分析和成像的完美工具。
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