二手 JEOL JEM 2010 #293741442 待售
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ID: 293741442
Transmission Electron Microscope (TEM)
Accelerating voltage: 200 kV
Point resolution: 0.19 nm
Equipped with 5-axis micro-active goniometer
LaB6
Double tilt holder
Single tilt holder
Chiller
Controller
HT Generator
PC
Table
Operating system: Windows XP
(2) Modes of operation:
Convergent Beam Diffraction (CBD) mode for crystal symmetry analysis
Nano Beam Diffraction (NBD) mode for crystal structure for nano-particles
GATAN CCD camera and Digital Micrograph provides:
Improved lattice-resolution
Automated measurement capabilities
Real-time video recording.
JEOL JEM 2010是一款高端扫描电子显微镜（SEM），旨在提供卓越的成像性能和最大的操作效率。它配备了增强型电子光学柱和高性能二次电子检测器，确保了最高水平的图像清晰度和分辨率。这台显微镜在30 kV时的最大分辨率为15mm，投影图像尺寸为1微米或更小。其放大倍率范围为15倍至300,000x，能够轻松地在各种SEM成像模式之间切换。JEOL JEM-2010还配备了具有自动聚焦功能的高级自动化采样阶段和高度通用的数字成像设备。这样可以进行动态图像采集和快速分析。它提供了广泛的样品成像可能性：从超高放大为SEM成像，到低放大为大面积表面分析。它还配备了集成电子反向散射衍射（EBSD）系统，用于详细的晶粒分析。它可以同时获取亮场、暗场和偏振光图像。JEM 2010提高了效率和吞吐量,包括使用粒子图像测速仪对样品进行自动对准、软件辅助样品定心和自动图像增强等功能。对于高级自动化以及2D和3D测量,JEM-2010拥有AutoVision imageCapture和imageAnalysis软件。这个自动化的样品成像装置具有先进的模式识别、分类和分析，以及全彩色立体重建，以确保显微镜的结果准确可靠。JEOL JEM 2010采用易于使用的控件和易于操作的用户界面设计，非常适合研究和教育设施。它甚至适合先进的生产线，具有快速的周转时间和直观的用户控制。这种扫描电子显微镜具有模块化的设计理念，具有洁净室标准的兼容性和先进的机器功能。JEOL JEM-2010具有高度的自动化、安全机制和全球支持,是所有研究和生产应用中SEM的可靠选择。
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