二手 JEOL JEM 2010 #293751171 待售

JEOL JEM 2010是一款先进的扫描电子显微镜，设计用于纳米尺度物体的成像和分析。它是一种数字成像设备,具有3.2海里的高空间分辨率、先进的样品制备功能、对比度控制成像设备和现场分析功能。显微镜可用于多种类型的成像和分析应用，如反向散射电子成像、二次电子成像、X射线微分析、涡流探测、元素映射、相组成分析和化学成分分析。此外，JEOL JEM-2010还配备了5轴计算机控制的采样级，使操作员能够以极高的精度以各种角度执行成像和分析任务。除了成像能力外，JEM 2010还配备了先进的能量色散X射线系统（EDX），允许用户对自己的样品进行高灵敏度和精确度的元素分析。该单元利用0-100 kV的分析范围，可以在原子水平上检测元素。此外,EDX检测器允许快速映射样品中检测到的每个元素,从而实现元素分布的成像。JEOL 2010还配备了数码相机，能够以高达15.6百万像素的分辨率从成像阶段拍摄图像。此模块为用户提供高分辨率的实时图像流,可用于成像、观察或与同事共享结果。最后，JEM-2010配备了EDGE机器，允许用户在电场中探测他们的样本。该工具使用能量高达4 keV，可用于各种任务，如检测缺陷、表面分析、金属蚀刻和合金分析。总体而言，JEOL JEM 2010是一款先进的扫描电子显微镜，具有卓越的成像能力和强大的分析功能。其用途广泛、用户友好的设计使其成为广泛的科学研究、工业和教育应用的理想工具。