二手 JEOL JEM 2010 #293754755 待售

JEOL JEM 2010是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于产生生物和非生物材料表面的极高分辨率图像。它具有高性能30kV肖特基场发射器，产生高亮度和小交叉尺寸的电子束。这保证了极好的光束相干性和分辨率，使得能够获得高质量的图像和详细分析各种材料的微观结构。JEOL JEM-2010提供了多种成像技术，可用于获取不同类型的数据。这些包括二次电子成像（SEI）、反向散射电子成像（BSEI）和阴极发光成像（CLI）。所有这些技术都可以用于研究多种材料，如金属、聚合物和薄膜。此外，该仪器还可用于分析微观结构信息、高分辨率元素映射和X射线微观分析。JEM 2010旨在实现最大的可靠性,提供较长的工作时间和最短的停机时间。它具有一个新开发的电子光学系统，允许稳定的操作和优越的图像性能。它还装有一个12厘米x 12厘米的大样板室，以便于样品的操作和方便的样品移动。此外，JEM-2010提供了一个集成的环境标本室和气体注入系统，可用于环境观测和样品制备。该仪器非常用户友好,具有自动操作功能和9英寸触摸灵敏控制面板。它还使用户能够轻松保存、检索和分析数据。JEOL JEM 2010还配备了专用的微分析计算机，专门设计用于分析SEM图像，具有强大的图像处理能力。JEOL JEM-2010提供卓越的成像性能,适合各种材料成像.它是故障分析、过程控制、研发等应用的理想工具。此外,它的模块化设计和高级功能使其成为各种成像任务的理想选择。