二手 JEOL JEM 2010 #293797155 待售
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ID: 293797155
Transmission Electron Microscope (TEM)
OXFORD INCA X-Sight
OXFORD Link ISIS EDX System
GATAN MultiScan 794 CCD Camera
Cathodes: Lab6 With filament
VARICON De-Vere 504 Enlarger
Camera pixel size: 1024 x 1024
Operating voltage: 120-200 kV.
JEOL JEM 2010是一款分辨率为0.25 nm、加速电压为0.01-100 KV的STEM（扫描透射电子）显微镜，非常适合满足先进的分析和3D成像应用需求。它具有革命性的低对准光学性能。低对准技术能够对纳米级样品进行极大的灵活性和快速、可靠的分析。这台尖端显微镜配有EDX（能量色散X射线）探测器，用于精确的元素分析。此外，JEOL JEM-2010还配备了超级透射电子显微镜（STEM）检测器和纳米孔径（NA）检测器。STEM检测器允许用户提高分辨率并选择最佳放大范围，而NA检测器则提供高分辨率的纳米结构图像。JEM 2010还具有先进的成像系统,具有IPS（图像处理软件）,可在0.2毫秒集成时间内提供高达每秒12帧（fps）的成像,非常适合明场和多角度暗场图像。图像处理系统对于具有广泛对比度的材料的亚微米成像具有强大而有效的性能。JEM-2010还利用高速Z驱动级方便、精确地移动样品，实现纳米颗粒的高分辨率断层扫描。此外，JEOL JEM 2010具有出色的分辨率和对比，其集成的高效Cs校正器用于校正色差。它还通过其低温成像的综合低温级提供了先进的分析能力，从而能够对其自然环境中的生命形式进行成像。这个用途广泛的系统能够进行各种各样的实验，从简单的元素分析到复杂的3D成像应用，使其成为高级电子显微镜研究的理想选择。其先进的成像和分析能力，结合低对准光学，使JEOL JEM-2010研究纳米材料和生命形式的理想仪器。
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