二手 JEOL JEM 2010 #293799508 待售

JEOL JEM 2010是一种扫描电子显微镜（SEM），能够产生高分辨率、亚微米图像。它具有高速SEM成像、电子反向散射衍射（EBSD）成像和能量色散X射线光谱（EDS）的能力。JEOL JEM-2010最多可容纳2个样本用于同时成像,从而实现快速高效的样本到样本切换。JEM 2010配备了野外发射源（FEI）枪，使显微镜达到高分辨率。它有一个三级枪对准设备，用于最佳的光束倾斜和柱头，以及先进的电子光学设计和电子光学来优化性能。该系统提供2到200kV的操作范围，传统和肖特基场效应发射器可用于灵活性和高性能的组合。JEM-2010能够使用镜头内二次电子探测器快速成像，从而最大限度地减少扫描调整和微调所需的时间。该单元还具有一个带有闪烁体的反向散射电子探测器，该探测器可最大化视场以获得最佳的反向散射分辨率。此外，该机器还能够利用其专为特定电子显微镜应用而设计的PräcisionGmbH设备进行采样加热。该工具配有多种成像选项，包括低真空和高真空操作能力，允许在空气中或受控真空下成像。再者，它配备了标准的4象限镜头内反向散射电子探测器（BSED），信噪比大于6000：1。JEOL JEM 2010附有独特的标本操纵资产，允许1 nm闭环步长的精细样本级。该模型还具有用于放大地形成像的无铬EBSD探测器。这些特征共同促进了对相位识别、晶粒大小和晶体学取向等样品特征的快速高效分析。JEOL JEM-2010还配备了实时成像能力，允许生物和催化材料在进行原位反应时直接成像。此外，该设备还可以与第三方真空测试系统集成。JEM 2010是一个功能强大且用途广泛的系统,可为各种任务提供卓越的性能。其高分辨率成像能力，结合样品加热和EBSD成像特性，使其成为生物、地质和材料科学应用的理想选择。