二手 JEOL JEM 2010 #293818185 待售

JEOL JEM 2010是一种扫描电子显微镜（SEM），用于观察各种样品的微观结构。JEOL JEM-2010凭借其精确的光学设计,能够实现高分辨率成像和图像采集.它具有独特的半倒设计，为低放大率提供了完美的光学对准。该型号配备了高斯型冷凝器透镜，可以将电子束聚焦到超细的光斑尺寸，从而能够进行勘测和分析应用。此SEM还具有可变压力后加速配置,旨在抑制由于样品充电而产生的伪影的数量和大小。JEM 2010先进的数字图像处理系统提供令人惊叹的实时成像性能。仪器配备了高达30 keV的电子束能量，使操作员即使在低放大率下也能获得高质量的图像。以1 µm的像素大小，JEM-2010的最高分辨率压碎了所有竞争对手的模型，并提供了无与伦比的图像质量来可视化标本的纳米结构。为提高易用性,JEOL JEM 2010具有用户友好的GUI,使数据采集和操作变得轻松一致。该仪器还兼容了许多扫描电子显微镜技术如EDX和LA-ICP-MS，以及许多SEM图像分析软件程序。JEOL JEM-2010配有许多配件,可进一步增强用户体验。其中一些包括自动机械手、前侧枪、低真空枪、低真空级、自动试样处理器和在分析时切换方向180°的反向取样装置。总体而言，JEM 2010是一款功能强大的扫描电子显微镜，为用户提供无与伦比的图像质量和功能，旨在提高效率，减少样品分析所花费的时间。