二手 JEOL JEM 2010 #293827624 待售

JEOL JEM 2010扫描电子显微镜（SEM）是一种电子显微镜模型，旨在帮助产生纳米级的材料和表面的高分辨率图像和显微照片。这种特殊的SEM旨在通过各种集成功能（包括最新的先进技术）提高用户的工作效率和吞吐量。JEOL JEM-2010配备了能量色散X射线光谱仪（EDS）和从1 kV到30 kV的各种加速电压，使其成为最通用的SEM之一。此外，它的数字成像系统包括一个大的图像视场高达20厘米和出色的分辨率。灵活的操作也是可能的，易于使用的用户界面和能力，在不同的试样阶段之间快速切换，而不改变SEM的设置。JEM 2010的物镜经过专门设计，为样品的观察和分析提供卓越的性能。使用先进的电子光技术，如电子束扩散的动态还原，以及磁场柱头的应用，可以使电子束更好地聚焦，更精确。此外，高功率物镜还为完美清晰的影像提供了绝佳的对焦深度。JEM-2010还提供了多种成像模式,从传统的SEM到低真空和高真空成像,以及倾斜和旋转技术,从而能够从单个样品收集各种数据。活动全方向级和Z轴控制器的组合允许对样品进行额外的精细控制。总体而言，JEOL JEM 2010是一款功能强大且先进的SEM，提高了用户可以从自己的样本中获得的成像质量和数据准确性，使他们能够使自己的工作产生最大的冲击力。