二手 JEOL JEM 2010 #9192793 待售

JEOL JEM 2010是一种高性能扫描电子显微镜（SEM），非常适合从微米到纳米尺度的多种底物。这台功能强大的仪器通过利用电子创建可用于研究和工业应用的3维图像来捕捉原子世界的图像。JEOL JEM-2010具有直径200 mm的大型样品放置级,利用电磁力达到6个自由度,提供精确和受控的样品移动。这款SEM还拥有高分辨率的野外发射枪，提供高达10nA光束电流的亮度和1nm的光斑大小分辨率，以提供卓越的图像质量。此外，先进的电子光学设备，配有三个多功能偏转器和一个客观的孔径控制系统，使用户能够准确捕捉样品的图像。该单元包括用于表面信息的二次电子成像、用于查看地形和组成的反向散射电子成像以及允许用户以高分辨率对比度增强来成像的高分辨率探测器等大范围成像功能。通过结合这些成像能力，JEM 2010可以在一系列应用中检测微观结构、粒子和缺陷等微妙特征。这一通用仪器提供了大量的分析信息。除了SEM图像，可选的能量色散X射线（EDX）检测器可以提供元素信息。自动化控制功能（如自动舞台移动和实时参数设置）减少了执行分析所需的时间。JEM-2010配备了包含图像处理和分析功能的软件套件。此综合套件与第三方应用程序一起,提供了多种测试后处理选项,包括3D重建、光谱分析和光谱成像。软件还提供机器控制和连接选项,以确保无缝高效的工作流。总之，JEOL JEM 2010是一种先进和通用的扫描电子显微镜，提供高分辨率成像和广泛的分析能力。其用户友好的设计和内置功能使其非常适合工业和研究应用。