二手 JEOL JEM 2010 #9277008 待售

JEOL JEM 2010是为高级研究应用而设计的高端扫描电子显微镜（SEM）。它结合了高通量可变压力电子源，以提高仪器性能。这种扫描电子显微镜适用于广泛的成像和分析应用，包括固体和液体的基础研究、材料加工和表征，以及半导体器件结构分析。JEOL JEM-2010提供多种分析能力，例如使用能量色散X射线分析（EDXA）进行元素成分测定，以及通过二次电子（SE）成像进行半导体电路结构分析。其其他特徵包括亮场、暗场、偏振和电子衍射成像选项。JEM 2010配备了高性能电子柱，允许以更高的放大倍数对样品进行动态二次电子成像。柱内主电子束偏转系统进一步加强了这一点，为用户提供了对主电子束的精确控制，并使聚焦调整更加容易。JEM-2010柱还能够承受范围广泛的加速电压，范围从1到30千伏，以适应不同的成像和分析要求。此外,还具有超高分辨率扫描功能,最小分辨率为2.5 nm。最大视场为1000 μ m。JEOL JEM 2010的高通量可变压力电子源在可视化样品表面的精细细节方面提供了极好的分辨率，提高了生产率。它还通过具有直观设计控制功能的人体工程学环境提供高效舒适的操作环境。最后，JEOL JEM-2010得到出色的客户服务和支持，为用户提供必要的维护和维修协助，以确保仪器的最佳性能。