二手 JEOL JEM 2010 #9375954 待售

JEOL JEM 2010是一款高性能扫描电子显微镜（SEM），专为包括表面地形、元素映射和结构分析等一系列应用而设计。JEOL JEM-2010结合了前所未有的入射电子束控制、成像性能和操作简便性,可用于高级成像应用。JEM 2010强大的电子光学允许精确控制入射电子束形状，实现卓越的光斑分辨率和增强的成像性能。Multi-true Focus Bolometer允许精确控制偏转角度和光束尺寸,并提供出色的单点分辨率。优化的柱设计还采用了先进的成像技术，具有高精度角光、三倍像差校正器和二次电子检测器，具有卓越的成像分辨率和对比度。JEM-2010集成了一系列方便用户的操作,包括直观的图形用户界面和自动校准功能。自动校准系统简化了SEM的设置，允许精确控制诸如加速电压和光束电流等成像参数。此外，创新的自动镜头对准系统进一步确保了一贯准确的成像。JEOL JEM 2010的环境控制是为了长期的图像稳定性和一致性而设计的。柱保护机制利用对柱压力和温度的仔细调节,而温度控制单元则根据需要调整柱温度。此外，创新的舞台力学和空气饱和驱动系统提供了高水平的扫描精度，提供卓越的稳定性和样品保护。JEOL JEM-2010是一台真正先进的扫描电子显微镜，即使是最苛刻的实验室也能满足需求。精密电子光学与强大的自动化控制相结合,可实现卓越的成像性能,并简化操作以实现最大效率。JEM 2010卓越的图像分辨率、用户友好的操作和出色的环境控制，使其成为一系列研究应用的理想显微镜。