二手 JEOL JEM 2010 #9384836 待售

JEOL JEM 2010是一种高分辨率、扫描电子显微镜（SEM）。这是一个可变压力扫描电子显微镜能够成像样品在广泛的放大范围，从10倍到2000倍。低真空成像能力允许对非导电样品材料进行高分辨率成像，而无需金属涂层或染色。扫描电子束也可用于分析目的。JEOL JEM-2010配备了一个自动二次电子探测器、两个反向散射电子探测器、能量色散X射线光谱（EDS）和一个用于双束成像的显微镜设置。JEM 2010设计用于成像和分析。它配备了分辨率为3.4nm 30kV的高分辨率单色仪，提供了非常细致的高分辨率图像。还有一个自动校准设备，用于调整级位和电压设置，以优化成像和分析。JEM-2010的高端成像和分析能力使其非常适合材料研究的许多应用。它非常适合半导体表征和故障分析,以及法医成像.在纳米级研究领域也得到了成功的应用。JEOL JEM 2010使用基于等离子体的电子光学透镜，允许高分辨率成像的放大倍数范围很广。显微镜还利用一系列光学器件获取样品的详细信息。其中包括电磁冷凝器透镜、物镜和物镜中心场透镜。加速度电压可以改变成像，从5kV到30kV，和分析，从0.1kV到30kV。JEOL JEM-2010有一个独特的自动化系统,能够快速轻松地进行设置。自动化的自动光束对准装置能够快速准确地对准光束，从而即使对于具有挑战性的样品也能获得所需的分辨率。自动染色机也使得制备成像样品更加容易。JEM 2010是一款出色的高分辨率扫描电子显微镜，提供出色的成像和分析能力。它非常适合广泛的样本分析任务。自动化系统使设置和使用更快、更容易,低真空成像使其成为样品制备的理想选择。