二手 JEOL JEM 2010 #9397253 待售

JEOL JEM 2010是一种高分辨率扫描电子显微镜（SEM），提供优越的成像能力来分析纳米级上广泛的Types样品的结构。适用于材料科学与工程、地质、生物等领域的应用。JEOL JEM-2010提供了一系列规格和功能,使其成为分析研究的有力工具。JEM 2010是一种场发射SEM，利用无间隙、非丝状电子源，产生高质量、高分辨率、最高对比度的图像。它配备了超高分辨率的野外发射枪、高灵敏度的反向散射电子探测器，以及一个自动聚焦系统，以捕捉细密、纳米级的图像，其尺度可达0.2nm。其超高质量分辨率使JEM-2010能够提供样品最外层原子层的图像。除了强大的成像能力外，JEOL JEM 2010还提供X射线光谱和能量色散X射线（EDX）功能来分析样品的成分。它配有X射线探测器、波长色散光谱仪和能量色散系统，用于检测样品中化学元素浓度的信息。JEOL JEM-2010还提供了一系列的标本操作工具，如可旋转样板级和自动倾斜旋转台。这有助于研究人员快速准确地测试各种样品条件。JEM 2010有很大的放大倍率范围，适合分析广泛的样本量。最大放大倍数可达300,000倍,最小输出功率为2 MV。它还具有10-90度的三维成像倾斜角范围和0.3nm的精确样品控制范围。这样可以确保样品始终与电子束保持正确的距离，以进行精确的测量。JEM-2010能够在低温至高温下成像,最佳范围为-25°C至+80°C。它还允许用户调整束电流、光斑大小和可调电子光谱滤波器，以便在收集到的数据中具有更大的通用性。JEOL JEM 2010先进的成像能力和更广泛的功能使其成为纳米级研究的理想工具。