二手 JEOL JEM 2010F #293621943 待售

JEOL JEM 2010F是一种扫描电子显微镜，设计用于高分辨率的应用范围广泛的样品。它具有出色的灵敏度、稳定性以及视标本而定的高达一百万倍的观测放大倍数。场发射电子源保证了高质量的图像与低光束引起的损害样品。JEOL JEM-2010F采用低真空室设计,不需要水冷,并将维护降低到最低水平。这种扫描电子显微镜具有极高的稳定性，信噪比为200：1，确保图像清晰和无失真测量。此外，JEM 2010F具有高度灵活的观测模式，具有检测反向散射电子、二次电子、非弹性电子、光电子和俄歇电子的能力。结合大量的探测器选择，该设备能够分析各种样品类型。JEM-2010F还配备了一系列先进的技术和配件，以增强其成像能力。其中包括允许以两种不同方式同时成像的双光束系统,例如SEM/TEM或STEM/EDX。高级分析股（AAS）选项可自动收集分析数据。另一个有用的功能是用户友好的样品处理机，它使样品和样品持有者在观察过程中易于交换。总体而言，JEOL JEM 2010F是一种功能强大且用途广泛的扫描电子显微镜，能够对各种样品进行详细调查。它的先进技术使其成为广泛研究和分析的理想工具。