二手 JEOL JEM 2010F #293805112 待售
网址复制成功！
单击可缩放
ID: 293805112
Transmission Electron Microscope (TEM)
GATAN Orius camera
OXFORD X-Max EDS
HAADF
PEELS
GATAN Double tilt
Simple tilt holder
Ionic pump
Hard Disk Drive (HDD)
PC.
JEOL JEM 2010F是一种扫描电子显微镜（SEM）.它能够以高达150,000倍的倍数生成极其详细的表面结构图像。JEOL JEM-2010F利用镜内型场发射枪（FEG），提供高亮度电子束和低电子束光斑尺寸。这样可实现小至0.3 nm的次nm分辨率成像,并确保图像的出色对比度和清晰度。它设计为在低压下工作，以增加灵活性和安全性。JEM 2010F包括一个集成的可旋转EBSD探测器，允许同时观察和分析晶体学特性。它还具有反向散射电子探测器和各种数字成像能力。设备提供的软件可实现自动图像缝合、三维分析以及自动导航和断层扫描。JEM-2010F具有可变倾斜的电动采样级,可实现高分辨率成像以及自动SEM扫描。工作距离可调整至200毫米长工作距离成像。舞台还包括一个9轴电动系统，用于自动扫描和导航，以及一个摄像机控制操作样品。JEOL JEM 2010F提供了广泛的功能,旨在确保获得高质量的成像。它包括一个真空单元，具有增强的泵送速度和最小化的排气，以及离子和电子枪加热，以提高束的稳定性。该机器还配备了自动视频安全工具和集成的自动去聚焦设备。JEOL JEM-2010F是一种通用的扫描电子显微镜，具有广泛的特点，便于高分辨率成像和分析。其集成软件、电动采样级和EBSD检测器提供强大的功能，使其成为电子显微镜应用的理想选择。
还没有评论