二手 JEOL JEM 2010F #293820051 待售
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ID: 293820051
优质的: 2002
Transmission Electron Microscope (TEM)
Field emission source
Cryo pole piece
Cryogenic imaging support
Cryo tomography capability
High Contrast Objective Aperture (HCOA)
Super MDS (Minimal Dose System) for low-dose cryo imaging
200 kV Field Emission Gun (FEG)
Acceleration voltage range: 80–200 kV
Point resolution (TEM): 2.7 A
Lattice resolution (TEM): 1.4 A
Gatan K2 camera
Optimized for low-dose cryo-EM
Suitable for cryo-tomography
Stage tilt +/- 45 degrees with standard JEOL holder
Stage tilt +/- 20 degrees with Gatan 626 cryo holder
XY movement with double tilt holder
Complete vacuum system
Standard sample holders
2002 vintage.
JEOL JEM 2010F是一种高分辨率扫描电子显微镜（SEM）,具有高通量电子源、先进的成像能力和多种用户模式。凭借其精细的镜头技术，JEOL JEM-2010F的分辨率高达2纳米，放大倍率高达25万。JEM 2010F是一种可变压力仪器，允许中低真空操作。这样就可以对样品进行检查，而不需要用导电材料涂层，保留精致的材料。它具有快速、方便的高、低真空模式切换功能。一个旋转的阳极X射线源提供信号增强，允许增加的细节和景深成像。真空腔室样品级为样品分析提供了一个稳定的平台，机械手臂为样品的精确定位提供了最佳成像。二次电子探测器安装在样品上，可用于测量表面地形和创建3D浮雕图像。JEM-2010F具有双重成像系统，可同时操作二次电子和反向散射电子探测器。这为用户提供了有关样品中元素的原子组成和浓度的信息。能量色散X射线光谱（EDS）可用于以纳米精度映射样品的元素组成。一个完整的室内离子源提供样品清洗和深度分析。这套成像和分析功能，加上用户友好的操作，使得JEOL JEM 2010F一个强大的扫描电子显微镜。它拥有一整套工具，可以开发高级成像和分析应用程序。这种显微镜是微观分析、光谱成像等的理想选择。
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